IC是半導體元件產品的統稱。

IC芯片是將大量的微電子元器件(晶體管、電阻、電容等)形成的集成電路放在一塊塑基上，做成一塊芯片。而今幾乎所有看到的芯片，都可以叫做IC芯片。集成電路是一種微型電子器件或部件。

采用一定的工藝，把一個電路中所需的晶體管、二極管、電阻、電容和電感等元件及布線互連一起，制作在一小塊或幾小塊半導體晶片或介質基片上，然后封裝在一個管殼內，成為具有所需電路功能的微型結構。

集成電路（IC）芯片在封裝工序之后，必須要經過嚴格地檢測才能保證產品的質量，芯片外觀檢測是一項必不可少的重要環節，它直接影響到 IC 產品的質量及后續生產環節的順利進行。外觀檢測的方法有：

一是傳統的手工檢測方法，主要靠目測，手工分檢，可靠性不高，檢測效率較低，勞動強度大，檢測缺陷有疏漏，無法適應大批量生產制造；

二是基于激光測量技術的檢測方法，該方法對設備的硬件要求較高，成本相應較高，設備故障率高，維護較為困難；